產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
壓電薄膜壓電系數(shù)分析系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，采用FPGA數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測試頻率，配合聲學(xué)與振動公司B&K生產(chǎn)的激振器作為振源，基于華測公司在弱信號采集技術(shù)的優(yōu)勢，設(shè)計的一款用于高溫環(huán)境下的壓電系數(shù)分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以直接分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評價與測試。
詳情介紹：
壓電薄膜壓電系數(shù)分析系統(tǒng)
產(chǎn)品優(yōu)勢
1.采用更好的激振器，具備更準(zhǔn)確的振動頻率；2.采用ADA4870 驅(qū)動技術(shù)與B&K激振器匹配，閉環(huán)實現(xiàn)更穩(wěn)定的加載力；
3.實現(xiàn)30Hz-140Hz寬范圍測量；
4.減小測量過程中的損耗，準(zhǔn)確測量；
5.采用直流線性加熱，減少渦流加熱噪聲；
6.采用真空電極避免絕緣支架帶來的熱釋電電荷，引入測量系統(tǒng)。
產(chǎn)品參數(shù)
電性能參數(shù)1.范圍：100到10,000 pC/N,
精度Accuracy±2%±1 pC/N；負(fù)載：1.0uF
2.高范圍：10到1000 pC/N，
精度：±2%±1 pC/N，負(fù)載：1.0uF；
3.低范圍：1到100 pC/N,
精度：±2%±0.1 pC/N，負(fù)載: 1.0uF；
4.范圍：d33 0到10 pC/N，
精度:±2%±0.01 pC/N，負(fù)載: 0.1uF；
應(yīng)用領(lǐng)域
在高溫測試過程中能夠除去熱釋電的影響，廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評價與測試。
