產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
薄膜電容電容器溫度特性測量儀由華測儀器生產(chǎn)，是將環(huán)境試驗箱與儀器相結合，效率采集數(shù)據(jù)的自動化多通道測量儀。儀器自動評估測量高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性和電容器在不同溫度下的關鍵參數(shù)，從而評估其溫度特性。該設備精度高、穩(wěn)定可靠，通道數(shù)量多，具有多種測試模式，多種可選夾具，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。
詳情介紹：
薄膜電容電容器溫度特性測量儀
產(chǎn)品優(yōu)勢
至多64個通道的自動測量可以測量不同溫度環(huán)境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個通道的倍數(shù)，至多64個通道。
圖形功能允許實時查看測量結果
收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進行實時審查。
可從不同測試模式選擇
溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相合。
溫度特性評估測試：在此測試模式下，自動記錄特性數(shù)據(jù)，并與溫度變化同步，頻率步數(shù)201步（范圍可定制）。
持續(xù)運行測試：測試模式測量參數(shù)的變化隨時間推移自動記錄數(shù)據(jù)。
頻率特性評價試驗：試驗模式在特定溫度環(huán)境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。
多種可選夾具 適用于不同的試驗樣本
除了SMD組件的專用夾具外，還提供了根據(jù)離散設備形狀定制的夾具。環(huán)境試驗箱(可定制)
產(chǎn)品參數(shù)
測量項目：電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)測試方法：溫度特性評價試驗（相對于溫度的變化）
恒定運行檢測（相對于檢測時間的變化）
頻率特性評價試驗 （相對于頻率的變化）
通道配置：8通道（標準）；至多64通道可擴展8通道增量
測量方法：交流四端對測量
測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz
電容量(C)：50 pF ~ 5 mF
損失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999
阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ
測量儀器：LCR表（可按需選擇型號）
直流偏壓：0 ~ ±40V
溫度測量間隔：1 ℃
掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成
頻率步長：201步（范圍可定制）
補償：短時補償，開放補償
環(huán)境試驗系統(tǒng)控制：溫度數(shù)據(jù)采集與測量和的溫度控制同步，具有RS-485功能的環(huán)境測試系統(tǒng)。
測量電纜：由聚四氟乙烯制成的同軸電纜（特性阻抗(Z)，50Ω，95 pF/m）
應用領域
通信與信息技術：在通信設備和信息技術產(chǎn)品中，多通道電容器溫度特性評估系統(tǒng)可以提供有效的測試方案，確保產(chǎn)品在各種溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。電子材料：印刷電路板、通量、絕緣材料（樹脂、薄膜等）、介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）。
